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Fluke 414D 雷射测距仪

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Fluke 414D 雷射测距仪只需一个按钮便能测量最远达 50公尺 (165 英尺) 的距离,精确度达 +/- 2mm (0.079 in)。
  

 Fluke 414D 雷射测距仪
Fluke 414D 雷射测距仪

 型号
Fluke 414D
Fluke 419D
Fluke 424D
测量距离
典型测量公差[1]
±2.0毫​​米[3]
±1.0毫米[3]
最大测量公差[2]
±3.0毫米[3]
±2.0毫​​米[3]
在徕卡目标板GZM26的范围
50米(165英尺)
80米(260英尺)
100米(330英尺)
典型距离[1]
40米(130英尺)
80米(260英尺)
80米(260英尺)
不利条件下的范围[4]
35米(115英尺)
60米(195英尺)
60米(195英尺)
显示的最小单位
1毫米(1/16)

6/30/60毫米
(10/50/100米)

下列距离的雷射点

6/30/60毫米
(10/50/100米)

6/30/60毫米
(10/50/100米)

倾斜测量
雷射光束的测量公差[5]
±0.2°的
外壳的测量公差[5]
±0.2°的
范围
360°
一般
雷射等级
2
雷射类型
635nm的,<1毫瓦
保护等级
IP40
IP54
自动关闭雷射
90秒后
自动关闭电源
180秒后
电池寿命(2AAA1.5 V NEDA 24A/IEC LR03

多达3000 
笔测量

多达5000 
笔测量

尺寸(高所述宽所述长)

116毫米长
53毫米宽
33毫米深

127毫米长
56毫米宽
33毫米深

127毫米长
56毫米宽
33毫米深

重量(含电池)
113克
153克
158克
温度范围:储存操作

-25°C至+70°C 
(-13°F至+158°F)0°C至+40°C (32°F至+104°F)

-25°C至+70°C 
(-13°F至+158°F)-10°C至+50°C (14°F至+122°F)

校正周期
不适用
不适用
倾斜与罗盘
最大高度
3000米
3000米
3000米
最大相对湿度

20°F至120°F 
(-7°C至50°C)时为85%

20°F至120°F 
(-7°C至50°C)时为85%

20°F至120°F 
(-7°C至50°C)时为85%

安全性

IEC标准编号61010-1:2001 
EN60825-1:2007(II级)

EMC

EN 55022:2010 
EN 61000-4-3:2010 
EN 61000-4-8:2010

[1]适用于100%x1达成:反射性(漆为白色的墙面),低背景照明,25°C。
[2]适用于10至500%x1达成:反射性,高背景照明,-10°C至+ 50°C。
[3]公差适用于从0.05米至10米,信赖水准为95%。在10米至30米的距离之间,最大公差可能劣化为0.1毫米/米,30米以上的距离则可能劣化为0.15毫米/米。
[4]适用于100%x1达成:反射性,背景照明介于10,000勒克斯和30000勒克斯之间。
[5]在user;校准后,每度的额外角度相关偏差为±0.01 °,每一象限最高で为±45°。适用于室温。若为整个操作温度的范围,最大偏差,则的增加±0.1°。

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