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泰克 DSA8200采样示波器

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如今的高速设计使得信号通道特征化和误码率(BER)性能分析比以前更加困难.借助最高的TDR(时域反射仪)带宽,最快速的S参数测量以及最全面的分析工具,DSA8200数字串行分析仪提供了一个全面的网络和链路分析解决方案.
  

DSA8200采样示波器图片
DSA8200采样示波器图片

功能
优点
最多4个真实差分通道
利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备,如放大器。
高带宽(50 GHz)时域反射仪
12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
IConnect® 信号完整性
利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
串行数据网络分析 (SDNA)
通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动,确保可靠的系统运行。
串行数据链路分析 (SDLA)
通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置最大化接收器的眼睁时间。
远程采样头
通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和最小化探头、电缆及测试治具的影响。

  • 一流的采样示波器,执行通信信号分析、TDR/TDT/ 串行数 据网络分析及采集和测量重复的超快速信号
    • 采集扩频时钟(SSC)信号
    • 业内唯一支持最多8 条输入通道的主机,提高了灵活性 和吞吐量
    • 四个颜色等级可变余辉波形数据库
    • 支持100 多种自动测量的测量系统
    • 完整的通信测量套件,包括OMA、SSC 曲线及其它类型 的测量
    • 自动ITU/ANSI/IEEE 模板测试
    • 内置SONET/SDH、FC、以太网和其它标准模板和测量 功能
    • 可以从出厂时提供的文件中加载模板更新程序
    • 模板余量测试,支持相邻频段产品的测试
  • 采集模块采集模块
    • 全面集成多速率光接口模块
    • 高达80+ GHz 的80C10B 光接口模块
    • 高精度“ER Calibrated”测量在部分模块中提供
    • 电接口模块,带宽高达70+ GHz,测得上升时间5 ps (10-90%)
    • 速率灵活的时钟恢复模块
    • 时钟恢复,支持SSC (扩频时钟)
  • 抖动、噪声、BER 和串行数据链路分析
    • 测量并从随机抖动中隔离确定性数据相关抖动
    • 测量垂直噪声,从随机噪声中隔离确定性数据相关噪声
    • 非常准确的BER 和眼图轮廓估算,支持最新的DDPWS 和TWDP 测量
    • FFE/DFE 均衡,发射机均衡
    • 支持对>30 dB 的通道进行通道仿真
    • 线性滤波器,支持夹具反嵌和线性滤波
  • TDR (时域反射计)
    • 高达50GHz的TDR带宽,15 ps的反射上升时间,12 ps 的入射上升时间
    • 最低的噪声,获得准确的可重复的TDR 测量结果- 在50 GHz 时为600 μVRMS
    • 独立校正采样器偏移,保证简便地反嵌夹具和探头
    • 业内唯一能够支持最多四对真正差分TDR 或电接口通道 的示波器,提高了系统通用性
  • S 参数测量
    • 高达50 GHz 的差分、单端、混合模式测量功能;及插入 损耗、回波损耗、频域串扰测量功能
    • 对千兆位信号路径和互连进行PCI Express、串行ATA、 Infiniband、千兆位以太网制造测试和标准一致性测试, 包括眼图模板测试
    • 直观、简便、准确,保证串行数据、千兆位数字设计和 信号完整性
    • 使用命令行界面,快速准确地自动进行多端口S 参数测量
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